在一定范圍內(nèi)，人們可以模擬產(chǎn)品在使用、運(yùn)輸過程中所經(jīng)受的外界環(huán)境
在試驗(yàn)室內(nèi)完整地再現(xiàn)自然界存在的環(huán)境條件是可望而不可及的事情。但是，在一定的容差范圍之內(nèi)，人們*可以正確而近似地模擬工程產(chǎn)品在使用、貯存、運(yùn)輸?shù)冗^程中所經(jīng)受的外界環(huán)境條件。
這段話用工程的語言概括，就是“試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的圍繞被試產(chǎn)品周邊的環(huán)境條件(含平臺環(huán)境)應(yīng)該滿足產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件及其容差的要求"。如用于產(chǎn)品試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱不僅要滿足國軍標(biāo)GJB150.3－86、GJB150.4－86中根據(jù)不同的均勻性和溫度控制精度的要求。只有這樣，才能保證在環(huán)境試驗(yàn)中環(huán)境條件的再現(xiàn)性。
隨著科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類：
一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求。
二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露?？捎脙x器來進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。
高低溫測試箱是高低溫環(huán)境下，檢驗(yàn)電子產(chǎn)品，材料、電工、儀器儀表的各種性能指標(biāo)。合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠，提前解決一些存在的安全隱患，高低溫試驗(yàn)箱為電子產(chǎn)品提供良好的模擬的環(huán)境，盡可能剔除掉不穩(wěn)定的因素，從而保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)，性能更高。
更新時(shí)間：2021-04-20
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